一、產(chǎn)品名稱(chēng)：平面平晶

二、產(chǎn)品別名：光學(xué)平晶，_平晶，二級(jí)平晶，平晶，光學(xué)晶體等。

三、產(chǎn)品規(guī)格：30  45  60  80  100  150  200  250  300  400  500  600mm，非標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格可以訂做。

四、平面平晶的使用原理： 平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。

五、平面平晶的用途：平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以?xún)x器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、_平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

六、產(chǎn)品的使用：測(cè)量時(shí)，把平晶放在被測(cè)表面上，且與被測(cè)表面形成一個(gè)很小的楔角，以單色光源照射時(shí)會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測(cè)表面﹐且平晶與被測(cè)表面間的間隙很小﹐則由平晶測(cè)量面P 反射的光線與被測(cè)表面反射的光線在測(cè)量面 P 發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行，且分布均勻，則表示被測(cè)表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲﹐則表示平面度不好。

平面平晶的干涉條紋平直則表示平面好.如果是彩色光圈一圈則是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈則用所看到的圈數(shù)乘以0.3則是它的平面度.如是弧形則表示是0.3以下.

_簡(jiǎn)單的方法，在測(cè)量時(shí)讀出明暗條紋的條紋數(shù)（明或暗，一般讀出暗條紋的個(gè)數(shù)即可）乘以0.3，結(jié)果即是平面度。（單位為um）