平行平晶簡介:平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶功能:平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。

平面平晶簡介:平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。

平面平晶功能:平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、_平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。

序號 名稱 型號規(guī)格 單位 數(shù)量 　等級 
1 平行平晶 0－25       4塊/組 1 
2 平行平晶 25－50     4塊/組 1
3平行平晶 50－75      4塊/組 1 
4 平行平晶 75－100   4塊/組 1